基于改进YOLOv5的表面缺陷检测方法

张之江, 魏国亮, 张忠, 蔡洁

控制工程 ›› 2025, Vol. 32 ›› Issue (5) : 943-951.

控制工程 ›› 2025, Vol. 32 ›› Issue (5) : 943-951.

基于改进YOLOv5的表面缺陷检测方法

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
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Surface Defect Detection Method Based on Improved YOLOv5

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_EN}}
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{{article.keyPoints_cn}}

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{{article.keyPoints_en}}

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{{article.zhaiyao_en}}

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2025, 32(5): 943-951
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2025, 32(5): 943-951
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{{article.reference}}

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